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射频集成电路测试系统是针对射频集成电路的性能指标测试要求，基于PXIe总线仪器为主体构建的一种集射频、数字、源测量等测试资源于一体且集成度高的集成电路综合测试平台。该系统具有开放式的系统体系架构，可适用于集成电路设计验证、产线测试、入厂复检等不同应用场景，能够满足射频前端类相关的功率放大器、低噪声放大器、微波开关、滤波器、双工器等器件的全指标多工位并行自动化测试需求。
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