思仪科技信号发生器性能重磅升级——频谱更纯净，功率更强劲，拓展测试边界无止境
2025-10-28
在5G通信、雷达系统和半导体器件研究飞速发展的今天，测试测量领域正面临前所未有的挑战。作为中国电子测量仪器领域的领军企业，思仪科技始终秉承“用测试测量赋能创新创造”的使命，在射频仪表研制领域不断追求卓越。思仪科技1466系列信号发生器迎来重大升级，同时推出射频低谐波选件和超大输出功率选件，将信号纯净度和输出功率提升至行业新水平。
升级核心：低谐波与超大功率选件详解
低谐波选件技术
谐波失真是影响测试准确性的关键因素。1466系列信号发生器新升级的射频低谐波选件通过系统级设计优化，全系列产品在10MHz～67GHz频率范围内实现＜-55dBc的卓越谐波抑制性能，二次谐波分量被抑制到-60dBc（测量值）以下，为射频与毫米波测试提供了纯净之源。
与传统方案相比，这一选件省去了外置谐波滤波器的需求，简化了测试配置，同时提高了测量结果的可靠性。
超大功率选件性能优势
毫米波频段测试中，电缆和测试夹具的衰减常常是棘手问题。新升级的超大功率选件在大功率选件基础上提升约10dB，最大输出功率技术指标在4GHz至20GHz频段超过33dBm（2W），在20GHz至28GHz频段超过30dBm（1W）、28GHz至40GHz频段超过25dBm。
如此高的输出功率意味着工程师可以直接驱动被测设备，无需外置放大器即可补偿测试系统中的损耗。这不仅简化了测试设置，还避免了外置放大器可能引入的额外噪声和失真，确保测试系统保持最佳的信号质量。
典型测试场景
卫星通信测试
在卫星通信领域的高吞吐量卫星馈线链路测试中，低谐波特性确保了带外杂散信号不会干扰相邻频道，而高输出功率则补偿了测试系统中不可避免的损耗，使工程师能够精确评估接收机灵敏度和系统性能。这对于当前快速发展的低轨卫星通信系统测试至关重要。
航空航天与国防应用
在电子战系统和雷达组件测试中，信号发生器的性能直接关系到测试结果的真实性和可靠性。1466系列信号发生器的低谐波和超大功率选件为这些关键应用提供了测试精度和系统稳定性。极低的谐波意味着更准确的信号模拟，减少了测试不确定性；而高输出功率则确保信号能够穿透长长的测试电缆和复杂接口，直达被测设备，模拟真实工作环境。
半导体芯片测试
GaN (氮化镓) HEMT作为第三代半导体，具有更高的功率密度和击穿电压。这意味着在芯片饱和功率、交调等参数评估测试中需要更大功率、更纯净的激励信号，1466系列信号发生器输出超过1W功率同时兼具低谐波，具有更高的可靠性和更好的线性度，是GaN功率器件测试的理想选择。
在高精度ADC芯片动态测试中，如果信号源本身含有谐波较大，这些“不干净”的成分会随着基波信号一起进入ADC。最终的FFT频谱会将信号源的失真和ADC自身的失真混叠在一起，导致无法分辨测量到的性能恶化究竟是ADC造成的，还是测试系统本身引入的。若在普通信号源后级接入高性能的带通或低通滤波器，可以显著滤除信号源产生的谐波成分。但这种方案灵活性较差，每个测试频点可能需要不同的滤波器。1466系列信号发生器的低谐波选件则解决了这一测试难题，让ADC的测试更加准确、简单、可靠。
一旦拥有，物超所值
升级低谐波和超大功率选件为客户带来多重价值：一方面，显著简化测试配置，省去外置放大器和谐波滤波器，降低系统复杂度和成本；另一方面，提高测试精度和可重复性，避免外部设备引入的误差。
对于需要频繁切换测试场景的研发实验室，这一升级功能意味着更高的测试效率和更短的产品开发周期。配置超大功率和低谐波选件的1466系列信号发生器不仅是满足当前测试需求，更是为未来技术挑战做准备，保护长期投资价值。
